ECMr-1000-n/ECMr-1000-nJ-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置,在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評(píng)估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHO
更新時(shí)間:2024-10-14 訪問(wèn)量:209 型號(hào):ECMr-1000-n/ECMr-1000-n
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